| 标准编号 | 标准名称 |
|---|---|
| GJB150.12A-2009 | 特种装备实验室环境试验方法——砂尘试验 |
| GJB150.13A-2009 | 特种装备实验室环境试验方法——爆炸性大气试验 |
| GJB150.14A-2009 | 特种装备实验室环境试验方法——浸渍 |
| GJB150.15A-2009 | 特种装备实验室环境试验方法——加速度试验 |
| GJB150.16A-2009 | 特种装备实验室环境试验方法——振动试验 |
| GJB150.17A-2009 | 特种装备实验室环境试验方法——噪声试验 |
| GJB150.18A-2009 | 特种装备实验室环境试验方法——冲击试验 |
| GJB150.19A-2009 | 特种装备实验室环境试验方法——温度湿度高度试验 |
| GJB150.20A-2009 | 特种装备实验室环境试验方法——炮击振动试验 |
| GJB150.21A-2009 | 特种装备实验室环境试验方法——风压试验 |
| GJB150.22A-2009 | 特种装备实验室环境试验方法——积冰/冻雨试验 |
| GJB150.23A-2009 | 特种装备实验室环境试验方法——倾斜和摇摆试验 |
| GJB150.24A-2009 | 特种装备实验室环境试验方法——温度湿度振动高度试验 |
| GJB150.25A-2009 | 特种装备实验室环境试验方法——振动噪声温度试验 |
| GJB150.26A-2009 | 特种装备实验室环境试验方法——流体污染试验 |
| GJB150.27A-2009 | 特种装备实验室环境试验方法——爆炸分离冲击试验 |
| GJB150.28A-2009 | 特种装备实验室环境试验方法——酸性大气试验 |
| GJB150.29A-2009 | 特种装备实验室环境试验方法——弹道冲击试验 |
| GJB360B-2009 | 电子及电气元件试验方法 |
| GJB548B-2005 | 微电子器件试验方法和程序 |
试验分类
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设备级环境试验
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气候环境试验
高温试验 低温试验 温度循环、温度冲击 湿热试验 高压蒸煮试验 盐雾试验 低气压试验 热真空试验 淋雨试验 砂尘试验 IP防护等级
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机械环境试验
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元器件环境试验
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元器件筛选试验
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外观检查-筛选
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性能测试-筛选
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环境应力筛选
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机械应力筛选
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封装缺陷-筛选
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功率老炼-筛选
功率老炼（电阻电容筛选） 功率老炼（集成电路筛选） 功率老炼（分立器件筛选） 功率老炼（功率模块/DCDC筛选） 功率老炼（微波器件/微波电路） 高低电平高温运行（继电器筛选） 高低电平低温运行（继电器筛选）
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外观处理-筛选
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元器件性能测试
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