| 标准编号 | 标准名称 |
|---|---|
| AEC-Q101-Rev-C | STRESS TEST QUALIFICATION FOR AUTOMOTIVE GRADE DISCRETE SEMICONDUCTORS |
| AEC-Q100-Rev-G | STRESS TEST QUALIFICATION FOR INTEGRATED CIRCUITS |
试验分类
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设备级环境试验
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气候环境试验
高温试验 低温试验 温度循环、温度冲击 湿热试验 高压蒸煮试验 盐雾试验 低气压试验 热真空试验 淋雨试验 砂尘试验 IP防护等级
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机械环境试验
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生化环境试验
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运输环境试验
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特殊环境试验
- 推荐试验室
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设备级EMC试验
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电磁敏感试验（EMS）
RS101 RS103 RS105 CS101 CS103 CS104 CS105 CS106 CS109 CS114 CS112 CS115 CS116
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电磁干扰试验（EMI）
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电磁兼容试验（民标EMC）
- 推荐试验室
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元器件环境试验
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- 推荐试验室
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元器件筛选试验
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外观检查-筛选
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性能测试-筛选
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环境应力筛选
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机械应力筛选
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封装缺陷-筛选
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功率老炼-筛选
功率老炼（电阻电容筛选） 功率老炼（集成电路筛选） 功率老炼（分立器件筛选） 功率老炼（功率模块/DCDC筛选） 功率老炼（微波器件/微波电路） 高低电平高温运行（继电器筛选） 高低电平低温运行（继电器筛选）
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外观处理-筛选
- 推荐试验室
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元器件性能测试
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- 推荐试验室
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南海自然暴露试验
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- 推荐试验室