• SEM电子扫描显微镜分析

  • sem0001

    • ¥1000.00/只   开机费:¥0.00

试验资质:
  • CNAS实验室
  • CMA实验室
  • 军用实验室
  • 航空实验室
  • 航天实验室
被试产品:
  • 大规模IC
  • 温度传感器
  • 光电器件
  • 微波器件
  • 射频电路
  • 频率器件
  • 二三极管
  • 功率器件/模块
  • 中小规模IC
  • DC/DC模块
试验标准:
  • GJB548B
  • GJB3157
  • GJB3233
  • GJB4027
  • GJB5914
  • AEC Q100
  • AEC Q101
  • AEC Q200
  • 其他自定义
  • IPC6012B
  • GJB128
自设条件:
时间 / 数量:
- +  /只            
条件选择说明:
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套装组合:

  • 套装1
SEM电子扫描显微镜分析
辐射骚扰测量
IC测试程序开发
设备级可靠性筛选
筛选试验套装
套  装  价: ¥105.00
原  价: ¥106100
立即节省: ¥105995
  • 试验描述
  • 试验名称:SEM电子扫描显微镜分析
  • 试验编号:sem0001_1
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