设备抗辐照试验 > 位移损伤效应试验

  • 位移损伤效应试验

  • GJB2015DD001

    • ￥20000.00/次   开机费：￥1.00

被试产品：
  • 元器件
试验资质：
  • 军用实验室
试验标准：
  • GJB548
  • GJB128
  • MIL-STD-883
  • GJB762.1
自设条件：
时间 / 数量：
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  • 试验描述
  • 试验名称：位移损伤效应试验
  • 试验编号：GJB2015DD001_1

位移损伤效应失效机理：在高能粒子辐射下，器件晶格发生位移导致性能下降的现象

位移损伤效应试验流程

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