元器件筛选试验 > 封装缺陷-筛选 > X射线检查

  • X射线检查-筛选

  • DPA2015008

    • ￥10.00/只   开机费：￥0.00

      说明：本报价仅用于批量组合筛选试验，如仅委托单项或委托数量少于100只，需加收500元开机费。

试验资质：
  • CNAS实验室
  • CMA实验室
  • 军用实验室
  • 航天实验室
试验标准：
  • GJB548B
  • GJB128A
  • GJB360B
  • QJ10003
  • 航天航空标准
  • GJB7243
  • GJB4027
  • AEC Q100
  • GB4589.1
  • AEC Q101
  • AEC Q200
被试产品：
  • 大规模IC
  • 温度传感器
  • 光电器件
  • 微波器件
  • 射频电路
  • 频率器件
  • 连接器
  • 继电器
  • 变压器
  • 二三极管
  • 功率器件/模块
  • 中小规模IC
  • DC/DC模块
自设条件：
时间 / 数量：
- +  /只            
条件选择说明：说明：本报价仅用于批量组合筛选试验，如仅委托单项或委托数量少于100只，需加收500元开机费。
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  • 试验描述
  • 试验名称：X射线检查-筛选
  • 试验编号：DPA2015008_1
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