• 温度循环、温度冲击(器件/电路/机电产品筛选)

  • GJB2015WDXH001

    • ¥1.00/ 只   开机费:¥0.00

      说明:本报价仅用于批量组合筛选试验,如仅委托单项或委托数量少于500只,需加收500元开机费。

试验资质:
  • CNAS实验室
  • CMA实验室
  • 军用实验室
  • 航空实验室
  • 航天实验室
试验标准:
  • GJB548B
  • GJB128A
  • QJ10003
  • 航天航空标准
  • GJB7243
  • AEC Q100
  • GB4589.1
  • AEC Q200
被试产品:
  • 大规模IC
  • 光电器件
  • 微波器件
  • 射频电路
  • 频率器件
  • 连接器
  • 继电器
  • 变压器
  • 二三极管
  • 功率器件/模块
  • 中小规模IC
  • DC/DC模块
自设条件:
时间 / 数量:
- +  / 只            
条件选择说明:说明:本报价仅用于批量组合筛选试验,如仅委托单项或委托数量少于500只,需加收500元开机费。
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  • 试验描述
  • 试验名称:温度循环、温度冲击(器件/电路/机电产品筛选)
  • 试验编号:GJB2015WDXH001_1

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